Probleme der modernen hochauflösenden Einkristall-Röntgenstrukturanalyse

Problems of modern high-resolution single-crystal X-ray structure analysis

by Peter Müller
Doctoral thesis
Date of Examination:2001-05-02
Date of issue:2001-05-23
Advisor:Prof. Dr. George M. Sheldrick
Referee:Prof. Dr. George M. Sheldrick
Referee:Prof. Dr. Peter Susse
Persistent Address: http://dx.doi.org/10.53846/goediss-2204

 

 

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Description:Dissertation

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Abstract

English

This thesis investigates some of the major problems of modern X-ray structure analysis, from crystallisation through data-collection and structure refinement to model validation. Giving several examples, it shows how to handle difficult structures, and how to deal with e.g. disorder or twinning. Thus, a picture is drawn, which presents the current situation of the method of single-crystal X-ray diffraction: where is crystallography today and how can it possibly develop in the near future.
Keywords: single-crystal; X-ray diffraction; crystallography; twinning; disorder; SHELXL

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Die vorliegende Dissertation stellt einige der wichtigsten Problembereiche der Röntgenstrukturanalyse vor. Von der Kristallzucht über Datensammlung und Verfeinerung bis hin zur Evaluierung des Modells wird anhand von Beispielen gezeigt, wie das jeweilige Problem behoben oder umgangen werden kann. Ein Schwerpunkt der Arbeit liegt hierbei auf den Gebieten Fehlordnung und Verzwillingung. Auf diese Weise soll ein Überblick über die gegenwertige Situation der Methode der hochauflösenden Einkristall-Röntgenstrukturanalyse gegeben werden: wo steht die Kristallographie heute und wie könnte es in einigen Jahren aussehen.
Schlagwörter: Röntgenstrukturanalyse; Kristallographie; Verzwillingung; Fehlordnung; SHELXL
 
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