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Multilagenbasierte Transmissionsoptiken für die Röntgenmikroskopie

Multilayer based transmission optics for x-ray microscopy

von Tobias Liese
Dissertation
Datum der mündl. Prüfung:2012-05-15
Erschienen:2012-08-23
Betreuer:Prof. Dr. Hans-Ulrich Krebs
Gutachter:Prof. Dr. Hans-Ulrich Krebs
Gutachter:Prof. Dr. Sarah Köster
crossref-logoZum Verlinken/Zitieren: http://dx.doi.org/10.53846/goediss-2949

 

 

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Name:liese.pdf
Size:28.2Mb
Format:PDF
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Lizenzbestimmungen:


Zusammenfassung

Englisch

Microscopy in the x-ray regime (0,001 – 10 nm wavelength) is a well-established method filling the gap between light and electron microscopy. Focusing of x-rays using transmission optics like zone plates, spatial resolutions in the range of 10 nm were already experimentally reached. Nevertheless, fabricating high resolution and also efficient optics, high aspect ratios (between zone height and zone width) are needed. Hence, promising alternatives are one- or two-dimensional multilayer based transmission optics namely multilayer Laue lenses (line focus) and multilayer zone plates (point focus). This dissertation deals with the development and optimization of a novel fabrication method of such multilayer based transmission optics for soft (0,5 – 6 nm) and hard x-rays (< 0,5 nm), which involves the combination of pulsed laser deposition and focused ion beam technique. For this purpose, the main focus is placed on an elementary understanding of specific layer growth and real interface properties of appropriate material systems as well as a straightforward fabrication process of suitable devices without any defects. This innovative method establishes new physical and technological paths to highly focus both soft and hard x-rays with a spatial resolution below 10 nm.
Keywords: pulsed laser deposition; focused ion beam; x-ray microscopy; x-ray optics; zone plate; multilayer Laue lens; multilayer zone plate; thin films; interface; cumulative roughness; smoothing

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Die Mikroskopie mit kurzwelliger Röntgenstrahlung (0,001 – 10 nm Wellenlänge) hat sich zunehmend als komplementäres Bindeglied zwischen der Licht- und der Elektronenmikroskopie etabliert. Die dazu notwendige Fokussierung von Röntgenstrahlen mittels Transmissionsoptiken wie z. B. Zonenplatten ist zu einer Standardmethode geworden, mit der sich mittlerweile experimentelle Auflösungen von ungefähr 10 nm erreichen lassen. Besonders schwierig ist hierbei jedoch die Realisierung hoher Aspektverhältnisse (niedrige Zonenbreite bei hoher Zonentiefe), um hochauflösende und gleichzeitig beugungseffiziente Optiken herzustellen. Eine vielversprechende Alternative stellt die Fabrikation von ein- oder zweidimensionalen Zonenplattenstrukturen, sog. Multilagen-Laue-Linsen oder Multilagen-Zonenplatten (Linien- oder Punktfokus) auf der Basis aperiodischer Multischichten dar. Die vorliegende Dissertation beschäftigt sich mit der Entwicklung und Optimierung einer neuartigen Herstellungsmethode multilagenbasierter Transmissionsoptiken für den weichen (0,5 – 6 nm) und harten Röntgenwellenlängenbereich (< 0,5 nm), welche die Verwendung zweier komplementärer Methoden umfasst: die gepulste Laserdeposition und die fokussierte Ionenstrahltechnik. Im Vordergrund steht dabei ein elementares physikalisches Verständnis von gezieltem Schichtwachstum und realer Grenzflächeneigenschaften geeigneter Materialsysteme sowie eine defektfreie und unkomplizierte Fabrikation entsprechender Optiken zur effizienten Fokussierung von Röntgenstrahlung mit möglichst hoher Auflösung. Wie im Verlauf der Arbeit deutlich wird, eröffnet dieses innovative Verfahren neue physikalische und technologische Wege zur Nanofokussierung weicher und harter Röntgenstrahlung für die Anwendung hochauflösender Röntgenmikroskopie im Bereich unter 10 nm.
Schlagwörter: Gepulste Laserdeposition; Fokussierte Ionenstrahltechnik; Röntgenmikroskopie; Zonenplatte; Multilagen-Laue-Linse; Multilagen-Zonenplatte; dünne Schichten; Grenzflächen; kumulative Rauigkeit; Glättung
 

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