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Multilagenbasierte Transmissionsoptiken für die Röntgenmikroskopie

dc.contributor.advisorKrebs, Hans-Ulrich Prof. Dr.de
dc.contributor.authorLiese, Tobiasde
dc.date.accessioned2012-08-23T15:59:04Zde
dc.date.accessioned2013-01-18T13:43:06Zde
dc.date.available2013-01-30T23:51:13Zde
dc.date.issued2012-08-23de
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11858/00-1735-0000-000D-F08A-8de
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.53846/goediss-2949
dc.description.abstractDie Mikroskopie mit kurzwelliger Röntgenstrahlung (0,001 – 10 nm Wellenlänge) hat sich zunehmend als komplementäres Bindeglied zwischen der Licht- und der Elektronenmikroskopie etabliert. Die dazu notwendige Fokussierung von Röntgenstrahlen mittels Transmissionsoptiken wie z. B. Zonenplatten ist zu einer Standardmethode geworden, mit der sich mittlerweile experimentelle Auflösungen von ungefähr 10 nm erreichen lassen. Besonders schwierig ist hierbei jedoch die Realisierung hoher Aspektverhältnisse (niedrige Zonenbreite bei hoher Zonentiefe), um hochauflösende und gleichzeitig beugungseffiziente Optiken herzustellen. Eine vielversprechende Alternative stellt die Fabrikation von ein- oder zweidimensionalen Zonenplattenstrukturen, sog. Multilagen-Laue-Linsen oder Multilagen-Zonenplatten (Linien- oder Punktfokus) auf der Basis aperiodischer Multischichten dar. Die vorliegende Dissertation beschäftigt sich mit der Entwicklung und Optimierung einer neuartigen Herstellungsmethode multilagenbasierter Transmissionsoptiken für den weichen (0,5 – 6 nm) und harten Röntgenwellenlängenbereich (< 0,5 nm), welche die Verwendung zweier komplementärer Methoden umfasst: die gepulste Laserdeposition und die fokussierte Ionenstrahltechnik. Im Vordergrund steht dabei ein elementares physikalisches Verständnis von gezieltem Schichtwachstum und realer Grenzflächeneigenschaften geeigneter Materialsysteme sowie eine defektfreie und unkomplizierte Fabrikation entsprechender Optiken zur effizienten Fokussierung von Röntgenstrahlung mit möglichst hoher Auflösung. Wie im Verlauf der Arbeit deutlich wird, eröffnet dieses innovative Verfahren neue physikalische und technologische Wege zur Nanofokussierung weicher und harter Röntgenstrahlung für die Anwendung hochauflösender Röntgenmikroskopie im Bereich unter 10 nm.de
dc.format.mimetypeapplication/pdfde
dc.language.isogerde
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/de
dc.titleMultilagenbasierte Transmissionsoptiken für die Röntgenmikroskopiede
dc.typedoctoralThesisde
dc.title.translatedMultilayer based transmission optics for x-ray microscopyde
dc.contributor.refereeKrebs, Hans-Ulrich Prof. Dr.de
dc.date.examination2012-05-15de
dc.subject.dnb530 Physikde
dc.subject.gokRD 000de
dc.subject.gokRP 000de
dc.subject.gokRRE 000de
dc.subject.gokRVC 000de
dc.subject.gokRVS 000de
dc.subject.gokRXE 000de
dc.description.abstractengMicroscopy in the x-ray regime (0,001 – 10 nm wavelength) is a well-established method filling the gap between light and electron microscopy. Focusing of x-rays using transmission optics like zone plates, spatial resolutions in the range of 10 nm were already experimentally reached. Nevertheless, fabricating high resolution and also efficient optics, high aspect ratios (between zone height and zone width) are needed. Hence, promising alternatives are one- or two-dimensional multilayer based transmission optics namely multilayer Laue lenses (line focus) and multilayer zone plates (point focus). This dissertation deals with the development and optimization of a novel fabrication method of such multilayer based transmission optics for soft (0,5 – 6 nm) and hard x-rays (< 0,5 nm), which involves the combination of pulsed laser deposition and focused ion beam technique. For this purpose, the main focus is placed on an elementary understanding of specific layer growth and real interface properties of appropriate material systems as well as a straightforward fabrication process of suitable devices without any defects. This innovative method establishes new physical and technological paths to highly focus both soft and hard x-rays with a spatial resolution below 10 nm.de
dc.contributor.coRefereeKöster, Sarah Prof. Dr.de
dc.subject.topicPhysicsde
dc.subject.gerGepulste Laserdepositionde
dc.subject.gerFokussierte Ionenstrahltechnikde
dc.subject.gerRöntgenmikroskopiede
dc.subject.gerZonenplattede
dc.subject.gerMultilagen-Laue-Linsede
dc.subject.gerMultilagen-Zonenplattede
dc.subject.gerdünne Schichtende
dc.subject.gerGrenzflächende
dc.subject.gerkumulative Rauigkeitde
dc.subject.gerGlättungde
dc.subject.engpulsed laser depositionde
dc.subject.engfocused ion beamde
dc.subject.engx-ray microscopyde
dc.subject.engx-ray opticsde
dc.subject.engzone platede
dc.subject.engmultilayer Laue lensde
dc.subject.engmultilayer zone platede
dc.subject.engthin filmsde
dc.subject.enginterfacede
dc.subject.engcumulative roughnessde
dc.subject.engsmoothingde
dc.subject.bk33.00de
dc.subject.bk33.18de
dc.subject.bk33.68de
dc.subject.bk33.79de
dc.identifier.urnurn:nbn:de:gbv:7-webdoc-3669-9de
dc.identifier.purlwebdoc-3669de
dc.affiliation.instituteFakultät für Physikde
dc.identifier.ppn731732499de


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