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Mikrostrukturänderungen durch hohe elektrische Stromdichten in Eisen-Kohlenstoff Dünnschichten

dc.contributor.advisorKirchheim, Reiner Prof. Dr.
dc.contributor.authorBrede, Thomas
dc.date.accessioned2021-08-11T14:28:09Z
dc.date.available2021-08-17T00:50:07Z
dc.date.issued2021-08-11
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/21.11130/00-1735-0000-0008-58DB-F
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.53846/goediss-8780
dc.language.isodeude
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subject.ddc530de
dc.titleMikrostrukturänderungen durch hohe elektrische Stromdichten in Eisen-Kohlenstoff Dünnschichtende
dc.typedoctoralThesisde
dc.title.translatedMicrostructural changes in iron-carbon thin films due to high electric current densitiesde
dc.contributor.refereeVolkert, Cynthia A. Prof. Dr.
dc.date.examination2021-07-12
dc.subject.gokPhysik (PPN621336750)de
dc.description.abstractgerDie Bearbeitung von Werkstücken mit hohen elektrischen und magnetischen Feldern stellt einen in den letzten Jahren zunehmend wachsenden Forschungsbereich in den Materialwissenschaften dar. Dennoch ist die Wechselwirkung der Felder und Ströme mit den Materialien komplex und noch nicht vollständig verstanden. Mit diesem Hintergrund wurde in dieser Arbeit der Einfluss hoher elektrischer Gleichstromdichten auf Eisen-Kohlenstoff-Dünnschichten untersucht. Der Fokus lag dabei auf Veränderungen der Mikrostruktur. Die Dünnschichten wurden per Argon-Atomstrahlsputtern in einer Kaufmannquelle hergestellt. Als Substrat diente ein Silizium-Einkristall mit amorpher Siliziumnitrid-Oberfläche. Die Eisen-Kohlenstoff-Schicht wurde durch Elektronenstrahl-Lithographie in Leiterbahnen geformt. Intensive Charakterisierungen vor und nach den Experimenten mit elektrischem Strom wurden mit Röntgenbeugung, Rasterelektronemikroskopie (REM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) durchgeführt. Die Bewegung von Kohlenstoff wurde qualitativ mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX), die Veränderung von Phasen und kristallographischen Orientierungen per Elektronen-Rückstreubeugung (EBSD) im REM beobachtet. Die Proben wurden mit elektrischen Stromdichten von bis zu 4 MA/cm² und bei Temperaturen bis 650°C in einem selbstgebauten Aufbau behandelt, ohne dass es zur Zerstörung der Leiterbahnen kam. Dies führte zur Elektromigration der Kohlenstoffatome und einer dadurch verursachten Ausbildung von langgestreckten Strukturen mit Aspektverhältnissen von bis zu 7. Die umgebende Mikrostruktur blieb dabei unverändert in ihrem nanokristallinen Ausgangszustand. Mit Hilfe dieser Beobachtungen konnte eine bisher rein theoretische Modellüberlegung experimentell bestätigt werden, nach der es zur elektromigrationsinduzierten Anreicherung der bewegten Spezies, im hier diskutierten Fall dem Kohlenstoff, vor einer Ausscheidung kommt. Durch diese Anreicherung und den Abtransport auf der entgegengesetzten Seite kommt es zur Verschiebung der Ausscheidung entgegen der Richtung des Kohlenstoffstromes. Dieses Modell konnte um das Wachstum der umgebenden Körner in den zuvor von der Ausscheidung eingenommenen Bereich erweitert werden. Als limitierenden Faktor für das Auftreten dieses Prozesses wurde die Kohlenstoff-Flussdichte identifiziert. Ist diese zu niedrig kann einfließender Kohlenstoff den sich vor einer Ausscheidung aufbauenden Konzentrationsgradienten nicht überwinden. Die Veränderung der Mikrostruktur bleibt aus.de
dc.description.abstractengProcessing of materials with high electric and magnetic fields is a growing topic in material science. Yet, the interactions of fields and currents are complex and not fully understood. Therefore, the impact of high direct electric current densities on nanocrystalline iron-carbon thin films was investigated. The focus was placed on changes in the microstructure. The thin films were prepared by argon-beam sputtering on a silicon substrate with amorphous silicon-nitride surface. The films were shaped into electric circuit lines by electron beam lithography. Intensive characterisations of the films were carried out by X-ray diffraction, scanning electron microscope (SEM) and transmission electron microscope (TEM). In the SEM energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) and electron backscattered diffraction (EBSD) were used to determine moved elements, phase compositions and crystallographic orientations. Treatment with electric current densities up to 4 MA/cm² were carried out successfully in a self-build setup at elevated temperatures up to 650°C. These let to electromigration of the carbon atoms and the formation of elongated grains with aspect ratios from up to 7, while the remaining microstructure stayed nanocrystalline. These observations confirmed a previously existing theoretical work. According to this, in the case of electromigration-induced accumulation of the mobile species, in the considered model system the carbon, a precipitate can move in front of it against its current through the surrounding matrix. This model could be extended by the growth of grains of the surrounding matrix in the area previously occupied by the precipitate. The limiting factor for this process is the carbon flux density. If it is too low, the carbon will not be able to overcome the concentration gradient which builds up in front of the precipitate. The change of the microstructure remains absent.de
dc.contributor.coRefereeKirchheim, Reiner Prof. Dr.
dc.contributor.thirdRefereeKlein, Helmut PD Dr.
dc.contributor.thirdRefereeHofsäss, Hans C. Prof. Dr.
dc.contributor.thirdRefereeSeibt, Michael Prof. Dr.
dc.contributor.thirdRefereePundt, Astrid Prof. Dr.
dc.contributor.thirdRefereeKrill, Carl E. Prof. Dr.
dc.subject.gerElektromigrationde
dc.subject.gerEisen-Kohlenstoffde
dc.subject.gerREMde
dc.subject.gerDünne Schichtende
dc.subject.gerAbnormales Kornwachstumde
dc.subject.gerRasterelektronenmikroskopiede
dc.subject.gerMikrostrukturde
dc.subject.gerHohe elektrische Stromdichtende
dc.subject.engelectromigrationde
dc.subject.engiron-carbonde
dc.subject.engSEMde
dc.subject.engthin filmsde
dc.subject.engelectric current processingde
dc.subject.engabnormal grain growthde
dc.subject.engScanning electron microscopyde
dc.subject.engmicrostructurede
dc.subject.enghigh current densitiesde
dc.identifier.urnurn:nbn:de:gbv:7-21.11130/00-1735-0000-0008-58DB-F-0
dc.affiliation.instituteFakultät für Physikde
dc.description.embargoed2021-08-17
dc.identifier.ppn1766495761


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